福禄克Fluke OptiFiber® Pro OTDR系列
福禄克Fluke CertiFiber®光纤损耗测试套件
福禄克Fluke SimpliFiber® Pro光功率计和光纤测试仪
福禄克Fluke Fiber QuickMap™多模光纤距离和故障定位仪
福禄克Fluke Fiber OneShot™ PRO光纤测试仪
福禄克Fluke VisiFault™ Visual Fault Locator电缆连通性测试仪
福禄克Fluke MultiFiber™ Pro光功率计及光纤测试工具包
福禄克Fluke FI-7000 FiberInspector™ Pro光纤显微摄像机
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什么是回波损耗?一般,UTP链路的特性阻抗为100Ω,标准规定5类线可以有±15%的误差,6类线可以有±5%的误差,如果超出误差范围就是阻抗不匹配。网络中数据在传输过程中遇到阻抗不匹配(整条链路有阻抗异常点)会引起信号发射,信号发射强度与阻抗值和标准阻抗的偏离大小相关。如果线缆开路就是阻抗无穷大,导致信号100%发生发射。在全双工网络中,整条链路既负责发送信号也负责接受信号,正常信号会与发射信号进行叠加造成信号不正常。回波损耗示意图如下图所示。福禄克DTX-1800里面回波损耗测试界面那么福禄克DTX-1800回波损耗不过解决方法:综合布线过程中的解决方法:回波损耗是线缆链路中阻抗不连续或是匹配不佳造成的造成 RL的原因有:跳线特性阻抗不是 100Ω线缆线对的绞结被破坏或是有纽绞 – 要保持线缆的原始绞结连接器不良线缆阻抗不恒定线缆不是 100Ω 的(例如使用了120 Ω线缆)线缆厂解决方法:实际上应用技术的发展还需要测量新的参数。回波损耗,以分贝(dB)形式表示,是由于特性阻抗不匹配造成的一部分信号的反射。回波损耗是在试图获得更好 UTP 系统性能时越来越重要的参数。高性能 UTP 的生产商都会特别注意以确保线缆中特性阻抗的一致性,还有所有的元件都要有很好的匹配性。所以在刚开发 5 类系统时回波损耗还不是个大问题,而在超 5 类和 6 类布线系统中就是非常重要的。解决方法:确保线缆中特性阻抗的一致性即芯线外径的均匀性(包括芯线的同心度等)...
LinkIQ智能链路通工业以太网线缆+ 网络测试仪解决工业以太网故障的头号原因福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪使您能够:验证线缆性能以支持Ethernet/IP、PROFINET、EtherCAT识别RJ45、M12X、M12D 和M8D 端接线缆的接线错误和分拆串扰线对识别已连接的交换机信息( 交换机名称、端口号和VLAN)通过交换机协商和PoE 负载测试来安装进行PoE 设备安装前测试,以及进行故障诊断和排除通过LinkWare PC 存档工作福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪概述:负责维护和/ 或管理工业网络运维技术专业人员的工作是充满挑战的。他们是解决现场问题人员,他们常常需要为将来网络无缝升级到更高速度进行规划。同时对现有基础设施进行故障诊断和排除以及优化。福禄克网络的LinkIQ提供了一种快速而强大的工具,有助于专业地管理网络,使其保持平稳高效地运行。通过对布线进行鉴定和故障诊断和排除——工业以太网问题的头号原因——LinkIQ 可以防止并节省数小时的生产停机时间。LinkIQ智能链路通工业以太网线缆+ 测试仪验证高达10 Gb/s 的线缆性能,以及解决网络连通性问题。LinkIQ利用基于频域的电子测量提供故障距离信息以及被测线缆的接线图。LinkIQ还诊断最近交换机以识别关键网络问题,并验证交换机配置,无需使用其他设备。另外还包括模拟和数字音频、端口闪烁、802.1x 安全认证、远程办公定位仪,以及通过LinkWare PC 管理结果等功能。福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪值得信赖的线缆测试LinkIQ的测量长度可达305 米(1000 英尺),并提供开路、短路和未端接线缆等故障位置的距离信息。利用工业以太网远端适配器可获得线缆线对的完整接线图,这有助于识别RJ45、M12X、M12D 和M8D 端接线缆的接线错误和串扰线对。LinkIQ支持EtherNet/IP、PROFINET、EtherCAT 以及其他工业以太网协议,鉴定从10BASE-T 至10GBASE-T(10 Mb/s 至高达10 Gb/s) 的布线带宽。该设备通过进行多次基于频域的电子测量来鉴定布线带宽。利用基于IEEE 标准的测量可确保经过测试的链路符合性能要求,而传输测试仪仅能证明特定测试设备可通过该链路进行通信。LinkIQ如何识别M12X、M12D、M8D 端接线缆的接线图。操作人员可将性能要求设置为10 Mb/s 至10 Gb/s,以实现简单的合格/ 不合格指示。连接了远端单元的线缆测试显示远端ID 5,长度和电缆编号以及线缆性能,高达10 Gb/s连接了远端单元的线缆测试显示远端ID 1,长度和电缆编号以及线缆性能,高达1 Gb/s,但由于用户设置的性能限值为10 Gb/s 而未能通过测试。福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪您所需的网络测试除了强大的线缆测试功能外,LinkIQ 还提供所连接的最近交换机的详细信息。LinkIQ 与交换机协商以识别设计数据速率( 高达10GBASE-T)、半/ 全双工标识、交换机名称、端口号和VLAN 信息。换机端口测试显示端口号、交换机名称和端口VLAN 以及设计速度和双工设置。向下滚动显示以太网供电(PoE) 结果。交换机端口以太网供电(PoE) 设置显示使用的线对、功率和可用的PoE 级别以及负载条件下的PoE 测试结果。福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪全面深入的Po E 测试尽管以太网供电(PoE) 简化了安防摄像头和接入点等设备的安装,但以太网联盟对800 多家安装商、集成商和最终用户的调查显示,五分之四的受访者在集成PoE 系统时遇到过困难。部分原因可归结为以下事实:IEEE 提供了三种PoE 标准,术语“PoE”未注册,并且还存在多种不符合标准的实施方式。为简化PoE 安装及其故障诊断和排除,LinkIQ 显示供电的线对,包括不同的功率水平以及用于双重签名的线对。此外,LinkIQ 实际上会在连接上施加负载,以确保布线基础设施中的交换机实际上可提供功率符合设计功率要求。 福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪LinkWare 文档编制LinkIQ 为其执行的测试提供完整的文档编制功能。测试仪中可存储多达1000 个带有描述性名称的结果并可调用结果。测试名称和编号随每次保存自动递增(“Annex B-1”、“Annex B-2”、“Annex B-3”等),从而节省顺序测试线缆时的大量时间。报告数据可导出至PC,以用于文档编制。LinkIQ 使用福禄克网络的报告管理软件LinkWare ? PC,该软件可支持各种类型测试仪,包括20 年前的机型,是业界名副其实的测试报告解决方案,拥有数以万计的活跃用户。LinkWare 可用于存储结果、测试结果数据统计以及生成PDF 报告。福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪:其他功能产生与IntelliTone Probe 或Pro3000兼容的模拟或数字音频,以帮助定位墙壁内或电信机房中的线缆使交换机端口指示灯闪烁,以帮助识别连接的交换机端口兼容MicroScanner PoE 远端标识,用于以太网插座识别基于手势的触控式显示屏可充电锂离子电池利用LinkWarePC 通过USB-C 轻松进行功能和网络测试升级通过标准USB-C 端口充电福禄克Fluke LinkIQ(LIQ-100,LIQ-KIT)智能链路通网络测试仪:LinkIQ 的突破性功能RJ45 端口基于频域的线缆性能鉴定测试的合格/ 不合格测量结果彩色触摸屏长度测量显示到端接、开路或短路的距离接线图显示故障的类型和位置( 接线错误、串扰线对、短路、断路)USB-C 端口,用于数据导出、软件更新和充电线缆“速度计”提供带宽信息,高达10G设备上可保存多达1000 个测试结果,并且测试结果可导出至LinkWare PC...
电路研发工程师利用红外热像仪根据电路中元器件发热、电路板热分布情况,可以分析出电路原设计存在的不足或隐患,能够避免许多潜在的风险。这将能够大大提高产品研发成功率和产品稳定性。 电路研发温度分析 1、电路元器件温度分析 当前,电子设备主要失效形式就是热失效。据统计,电子设备失效有55%是温度超过规定值引起,随着温度增加,电子设备失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感,器件温度在70-80℃水平上每增加1℃,可靠性就会下降5%。 2、负载分析 在电路研发过程中,可以除了常规的测试(如示波器、万用表等)手段外,还可以用热像仪对电路板进行检测,通过显示出的不同温度点,对元器件所承受的电流,电压等情况进行了解,工程师根据所检测的温度点,完善电路,提高转换效率、减少功耗、减少电路内部温升,提高电路的可靠性。 3、整个电路温度场分布分析 采用合理的器件排列方式,可以有效的降低印制电路的温升,从而使器件及设备的故障率明显下降。 4、快速分析问题 在某些研发维修场合,如对短路板的快速检修时,通过热像仪无须使用线路图即可快速定位板内短路点在何处,以便进一步处理。 红外热像仪为什么能进行温度分析? 电路元器件在工作时,由于通过元器件的电流的不同,各个器件之间的差异等原因,而产生的热量也会随之不同,体现在元器件表面特征就是温度差异。红外热像仪就是利用各个元器件温度之间差异,分析出电路的不同性能特点。 热像仪检测独特优势 。1、现有的温度分析工具 许多工程师都会抱怨现有的手段难以支持他们进行一个细致而全面的温度场描绘,同时操作不方便、而且可能改变原温度场分布,如: 数据采集器:使用接触式数据采集器可能会遇到如下问题:电路板断电,贴片热电偶不够多,操作不方便,反应时间较慢(30秒至1分),同时使用接触式数据采集器还将改变所测器件的散热状况等。 红外点温仪:外点温仪只能测量一个区域的平均温度,无法检测较小的目标,无法得到电路整体温度分布。 2、热像仪温度分析优点 红外热像仪和数据采集器、红外点温仪相比较,有自身的优点: 通过红外线热像仪检测目标电路时,不需要断电,操作方便,同时非接触测量使原有的温度场不受干扰; 反应速度较快,小于1秒; 选用合适的红外镜头,能够检测出较小目标; 利用红外分析软件对所获得的电路温度数据进行全面分析。 拍摄时可能会遇到哪些问题?电路板上有部分器件(如电解电容顶面、电源模块背面及其它芯片光洁面),其发射率比较低,所以检测出的温度差异较大。在拍摄此类器件时,要将其表面用黑笔或黑漆涂黑,然后进行测温等操作。 当用标准镜头无法分辨小目标时,可以更换10.5mm广角镜。 如何才能拍摄优质电路红外热像? 现代电路微型化,组件高密度集中化的趋势正在迅速普及,所以在使用红外热像进行拍摄时,若要得到一幅清晰的红外热图,我们建议: 尽量选择热灵敏度较高的热像仪; 拍摄焦距应尽量对准,使热像仪红外镜头面轴线与所要拍摄的电路板垂直; 先使用自动模式测量的温度范围;然后手动设置水平及跨度,将温度范围设置在最小,并包含有先前测量的温度范围。 ...
ACR-N(衰减近端串扰比):在福禄克DTX-1800测试中,经常出现的参数是ACR-N,那么它到底是什么意思呢?ACR-N是同一频率下近端串扰NEXT和衰减的差值,用公式可表示为:ACR=衰减的信号-近端串扰的噪音,它不属于TIA/EIA-568B标准的内容,但它对于表示信号和噪声串扰之间的关系有着重要的价值。为了达到满意的误码率,近段串扰以及信号衰减都要尽可能的小。ACR是一个数量指数指示器,表明了在接受端的衰减值与串扰值的比值。为了得到较好的性能,ACR指数需要在几db左右。如果ACR不是足够大,那么将会频繁出现错误。在许多情况中,即使是在ACR值中的一个很小的提高也能有效地降低整个线路中的误码比率。 ACR-F(衰减远端串扰比):远端串扰和衰减的差值。 福禄克Fluke DTX-1800新旧参数对比:ACR/ACR-N衰减串扰比ACR-F(EL FEXT)远端衰减串扰比(等效远端串扰)ACR-F(PSELFEXT)-综合远端串扰比(综合等效远端串扰)ACR-N远端衰减串扰比(等效远端串扰)...
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